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전자기 간섭은 적분 측정 회로에 세 가지 주요 방식으로 영향을 줄 수 있습니다: 적분된 입력을 변경하거나, 기준 전압으로 구동되는 복귀 램프를 변형하거나, 변환 타이밍 및 펄스 수신을 방해합니다. 앞의 두 가지는 회로를 멈추지 않고도 변환 결과를 변경할 수 있습니다. 펄스 중단은 변환이 완료되지 못하거나, 컨트롤러가 재설정되거나, 출력 경로가 유효한 신호 전송을 중단할 때 발생할 수 있습니다.
깜박이거나 고정된 펄스 표시기만으로는 어떤 메커니즘이 원인인지 식별할 수 없습니다. 유용한 설명은 다음 세 가지를 연결합니다: 간섭이 유입되는 위치, 적분 파형이 변화하는 방식, 그리고 그 변화가 측정 결과나 펄스 출력에 도달하는 과정입니다.
모델 및 범위: 이 기사는 일반적인 이중 슬로프 모델을 사용합니다. “양의 적분”은 입력 적분을 의미하며, “음의 적분”은 반대 기준 전압을 사용한 역적분을 의미합니다. 이러한 명칭은 출력이 양수에서 음수로 변해야 함을 의미하거나, 두 개의 독립적인 채널을 암시하거나, 에너지 수입/수출 레지스터를 설명하는 것이 아닙니다. 계량 결과를 설명하기 위해, 프론트 엔드가 이미 유효 전력에 비례하는 저대역폭 신호를 생성했다고 가정합니다. 변환 결과는 시간 가중 에너지 누적 및 펄스 생성으로 전달됩니다. 이는 측정된 전력이 변환 사이의 간격을 포함하여 해당 구간에 할당된 값을 나타낸다고 가정합니다. 이것은 보편적인 에너지 계량기 아키텍처가 아닌 설명용 모델입니다. 시그마-델타 ADC, 디지털 곱셈 및 직접 전압-주파수 변환은 실제 신호 경로에 대한 분석이 필요합니다. 파형 점검은 적절한 정격의 절연 측정 장치를 사용하는 자격을 갖춘 엔지니어가 수행해야 합니다. 계량 보드는 주전원 전압을 기준으로 할 수 있으므로, 일반적인 접지 기준 오실로스코프 접지선을 활성 기준 노드에 연결해서는 안 됩니다.
1. 정상 작동: 이중 슬로프 변환 중 발생하는 현상
아날로그 변환과 에너지 펄스 기능을 분리하십시오:
전력 비례 신호
↓
입력/기준 스위칭 → 적분기 → 비교기 → 타이밍 및 변환 결과
↑ │
└──────────────── 위상 제어 ────────────────┘
변환 결과 → 시간 가중 에너지 누적
→ 단일 펄스의 에너지 증분 도달 → 계량 펄스
이는 기능적 관계를 나타내며, 배선 지침이 아닙니다. 비교기의 변환 완료 전환은 하위 단계에서 생성되는 계량 펄스가 아닙니다.
양의 적분: 입력을 전압 편차로 변환
입력 적분은 고정된 간격 T₁ 동안 지속됩니다. 일정한 입력에 대해, 이상적인 적분기 출력 편차의 크기는 다음과 같습니다:
|ΔV₁| = |Vin| × T₁ / (Rint × Cint)
입력이 클수록 더 가파른 램프가 생성됩니다. 적분 간격이 길수록 더 큰 편차가 생성됩니다. 입력이 변하는 경우, 최종 편차는 단일 순간 피크가 아닌 적분 윈도우에 걸친 입력의 면적에 따라 결정됩니다.
여기서 ΔV는 전압 변화입니다. 이에 대응하는 전하 변화는 다음과 같습니다 ΔQ = Cint × ΔV; 두 수량은 서로 바꿔 사용할 수 없습니다.
음의 적분: 알려진 기울기로 시작 임계값으로 복귀
입력 적분 후, 회로는 출력를 시작 임계값으로 되돌리는 기준점으로 전환됩니다. 이상적인 복귀 기울기 크기는 다음과 같습니다:
|S₂| = |Vref| / (Rint × Cint)
두 위상이 동일한 Rint 및 Cint를 사용하고 동일한 임계값으로 복귀하는 경우:
|Vin| × T₁ = |Vref| × T₂
따라서:
T₂ = T₁ × |Vin| / |Vref|
일반적인 변환은 두 개의 램프를 가집니다. 하나는 시작점에서 멀어지고, 다른 하나는 시작점으로 돌아옵니다. 비교기는 복귀 임계값을 감지하여 컨트롤러가 T₂ 타이밍을 멈출 수 있게 합니다.
0.5 V의 예시 입력, 1 V의 기준 크기, 20 ms의 T₁에 대해 이상적인 T₂는 10 ms입니다. 이는 특정 계측기에 대한 사양이 아닌 계산 입력값입니다.
이중 슬로프 변환을 사용하면 공유된 RC 구성 요소의 이상적인 값들이 비율에서 상쇄될 수 있습니다. 오프셋, 누설, 임계값 오류 및 과부하 복구는 여전히 중요합니다. 실제 구현에는 자동 영점 조정 및 잔류 전류 제거 단계가 포함될 수 있습니다. 다음을 참조하십시오. Analog Devices의 적분형 ADC 아키텍처에 대한 설명.
2. 간섭은 어디로 유입되며 무엇을 변화시키는가?
동일한 외부 교란이라도 도달하는 노드에 따라 다른 결과를 초래할 수 있습니다.
| 결합 위치 | 영향을 받는 회로 수량 | 즉각적인 증상 |
|---|---|---|
| 샘플링 및 적분기 입력 | 입력 전압, 전류 또는 통합 영역 | 램프 기울기 변경 또는 엔드포인트 이동 |
| 공급, 기준 및 기준 접지 | 증폭기 헤드룸, 리턴 기울기 또는 비교 임계값 | 클리핑, 변경된 리턴 시간 또는 엔드포인트 지터 |
| 스위치 제어, 클록 및 리셋 | 위상 지속 시간, 스위칭 시간 또는 유효 타이머 카운트 | 변환 점프, 시간 초과 또는 재시작 |
| 펄스 드라이버 및 수신기 인터페이스 | 로직 레벨, 펄스 폭, 에지 또는 수신기 참조 | 잘못된 펄스, 누락된 카운트 또는 누락된 외부 펄스 |
두 입력 단자를 함께 이동시키는 공통 모드 교란이 자동으로 차동 측정 오류가 되는 것은 아닙니다. 그러나 유한한 공통 모드 제거율, 입력 필터 임피던스 불일치 또는 초과된 공통 모드 범위는 결과에 영향을 미칠 수 있습니다.
또한 간섭 중의 일시적인 오류, 이벤트 후 복구, 영구적인 하드웨어 손상을 구분하십시오. 출력의 짧은 일시 중지는 영구적인 부품 고장을 나타내지 않습니다.
클럭 오류도 맥락이 필요합니다. 고정된 통합 간격과 반환 카운트가 동일한 안정적인 클럭을 사용하는 경우, 공통 클럭 주파수 스케일 팩터가 비율에서 취소됩니다. 위상 간의 클럭 교란, 손실된 에지 또는 재설정은 여전히 변환을 손상시킬 수 있습니다. 별도로, 에너지 축적은 경과 시간에 따라 달라집니다. 변환 비율 취소는 정확한 에너지 시간 기준을 보장하지 않습니다.
3. 양의 적분 오류: 램프가 변하거나, 클리핑되거나, 멈추는 이유는 무엇인가?
입력 간섭이 신호와 함께 통합됨
실제 입력이 원하는 신호 Vin(t)와 외란 vn(t)로 구성된다고 가정합니다. 이상적인 반전 적분기의 경우, 외란은 다음과 같은 추가적인 출력 편차를 유발합니다:
δV₁ = −[1 / (Rint × Cint)] × ∫ vn(t) dt, 0에서 T₁까지 적분
즉각적인 의미는 유용합니다: 적분 윈도우 내 외란의 순 면적이 변환 오차에 대한 이러한 기여도를 결정합니다.
양의 면적과 음의 면적이 상쇄되면 종단점 오차가 작아질 수 있습니다. 윈도우가 주기의 일부만 포함하거나 외란에 오프셋이 포함된 경우 종단점이 이동합니다. 고정된 적분 간격은 평균화를 통해 특정 주기적 외란을 제거할 수 있지만, 모든 고주파 신호를 자동으로 제거하지는 않습니다.
다른 경로가 있습니다. 고주파 간섭은 프런트 엔드의 비선형 접합부에 의해 정류되어 저주파 또는 DC 오차를 생성할 수 있습니다. 그러면 적분기는 이미 왜곡된 신호를 수신하게 됩니다. 적분 간격을 연장하는 것만으로는 해당 오차를 제거하지 못할 수 있습니다. Analog Devices 튜토리얼 MT-096 정밀 증폭기에서 RF 정류를 설명합니다.
확인해야 할 증거: 입력 위상은 정상적으로 시작하고 끝나지만, 그 끝점과 후속 복귀 시간은 입력 교란에 따라 변경됩니다. 먼저 입력 영역이 변경되었는지 또는 적분기 자체가 선형 동작을 멈췄는지 확인하십시오.
헤드룸 부족으로 램프가 잘림
선형 적분 관계는 증폭기가 지정된 작동 조건 내에 있는 동안에만 적용됩니다.
과도한 입력 또는 사용 가능한 출력 스윙을 감소시키는 공급 교란은 램프를 증폭기의 출력 한계로 몰아갈 수 있습니다. 파형은 평탄부를 형성합니다. 입력은 여전히 존재할 수 있지만, 출력은 더 이상 예상된 기울기를 따르지 않으므로 변환은 입력 영역에 대한 정보를 잃게 됩니다.
이는 실제 제로 입력으로 인한 평탄한 램프와는 다릅니다. 입력, 공급 및 적분기 출력을 함께 비교하십시오:
- 입력 존재, 출력은 스윙 한계 근처: 헤드룸 또는 과부하를 조사합니다.
- 입력이 실제로 연결되지 않았고, 출력이 이전 값을 유지합니다: 스위칭 상태 및 입력 경로를 검사합니다.
- 정상 조건이 복귀된 후에도 이상 동작이 잠시 지속됩니다: 증폭기가 손상되었다고 결론 내리기 전에 과부하 복구를 평가합니다.
공통 모드 과범위, 출력 포화 및 CMOS 래치업은 다른 조건입니다. 래치업 진단에는 장치별 동작, 비정상 전류 및 복구 특성과 같은 증거가 필요하며, 단순히 평탄한 파형만으로는 부족합니다.
스위칭 및 누설이 통합 전류를 변경합니다.
아날로그 스위치 전환은 전하를 주입할 수 있습니다. 순 전하 ΔQ가 통합 커패시터에 도달하면 결과 전압 스텝은 대략 다음과 같습니다:
ΔVstep ≈ ΔQ / Cint
이는 종종 균일한 기울기 변화보다는 스위칭 순간의 계단으로 나타납니다. 전하 분포는 스위치 및 주변 회로에 따라 달라지며, 전체 데이터시트 전하 주입 값은 자동으로 Cint에 할당되어서는 안 됩니다. 참조하십시오. Analog Devices의 아날로그 스위치 튜토리얼 MT-088.
지속적인 추가 누설 전류는 추가 입력과 유사하게 동작합니다. 기울기 오차의 크기는 대략 다음과 같습니다. |Ileak| / Cint. 입니다. 원하는 입력 전류가 작을 때 동일한 누설은 더 큰 상대 오차를 발생시킵니다.
전하 주입 및 누설은 기존 회로의 비이상성입니다. 외부 간섭이 파형, 작동 조건 및 이벤트 전, 중, 후의 장치 동작을 비교하여 이러한 비이상성을 악화시키는지 확인하십시오.
4. 음의 적분 오류: 임계값으로의 복귀가 잘못되는 이유는 무엇인가?
참조 변동은 복귀 속도를 변경합니다
입력 적분 종단점이 변경되지 않은 상태에서, 기준 크기가 작아지면 복귀 램프가 더 완만해지고 T₂가 길어집니다. 기준 크기가 커지면 그 반대 현상이 발생합니다.
역적분(de-integration) 동안 대략적으로 일정하게 유지되는 작은 기준 변화의 경우, 역관계는 다음과 같습니다:
δT₂ / T₂ ≈ −δVref / Vref
여기서 Vref는 기준 크기를 나타냅니다. 후단 처리에서 여전히 공칭 기준 값을 사용하는 경우, 더 긴 T₂는 더 큰 입력으로 해석됩니다. 첫 번째 결과는 이득 오차이며, 반드시 펄스 출력이 정지되는 것은 아닙니다.
역적분 과정 전반에 걸쳐 기준값이 변하면 복귀 기울기도 시간에 따라 변합니다. 단일 순간 전압 판독값에 의존하기보다는 해당 단계에 걸친 기준값의 적분값을 평가하십시오.
기준이 올바르게 적용되지 않음
컨트롤러가 의도한 기준 전류를 설정하지 않고 역적분을 명령할 수 있습니다. 이 경우 출력은 유지되거나, 서서히 드리프트하거나, 주로 누설 및 바이어스에 반응할 수 있습니다. 잘못된 기준 극성은 출력을 종단점에서 더 멀어지게 만들 수 있습니다.
결정적인 관찰 사항은 다음과 같습니다: 스위칭 명령 후, 적분 노드가 실제로 필요한 방향으로 전류를 수신합니까?
이는 높은 출력을 음의 전원 공급 장치 붕괴 탓으로 돌리는 것보다 더 유익한 정보입니다. 디적분(de-integration)에는 반대 방향의 전류가 필요하며, 회로에 별도의 음의 전원 공급 장치가 필요한지 여부는 구현 방식에 따라 다릅니다.
임계값 노이즈가 변환 종료 이벤트를 손상시킴
비교기는 두 입력 간의 차이에 반응합니다. 종단점 근처에서 램프(ramp) 또는 비교 기준값의 노이즈는 해당 차이의 부호를 반복적으로 변경할 수 있습니다. 그 결과 발생하는 전환은 빠르거나, 늦거나, 또는 반복될 수 있습니다. Texas Instruments의 히스테리시스 포함 비교기 지침은 임계값 근처의 노이즈로 인해 발생하는 다중 전환을 설명합니다.
작은 유효 임계값 오차 δV와 거의 일정한 종단점 기울기에 대해, 타이밍 오차 크기는 다음과 같습니다:
|δt| ≈ |δV| / |S₂|
따라서 리턴 램프가 느릴수록 동일한 전압 외란이 더 큰 타이밍 오차를 발생시킵니다.
그다음 발생하는 현상은 제어 로직에 따라 다릅니다. 이른 에지를 캡처하면 측정된 간격이 짧아집니다. 유효한 에지를 놓치면 완료가 지연되거나 타임아웃이 트리거될 수 있습니다. 무기한 대기는 구현된 타임아웃 및 복구 동작에 따라 달라지며, 이는 불가피한 “비교기 잠김(comparator lockup)” 현상이 아닙니다.”
적분기 출력, 비교기 출력 및 변환 완료 상태를 동일한 시간축에서 관찰하십시오. 그것이 아날로그 리턴 결함과 놓친 디지털 이벤트를 구분하는 방법입니다.
커패시터 메모리 및 잔류 전하가 다음 시작 지점을 변경함
유전체 흡수 현상으로 인해 커패시터 동작은 이전의 충전 및 방전 이력에 의존하게 됩니다. 불완전한 잔류 전하 제거는 다음 변환이 다른 레벨에서 시작되도록 만들 수도 있습니다. 이러한 오차는 입력 진폭이나 극성이 변경된 후에 더 두드러질 수 있습니다.
그리고 Microchip TC500 제품군 문서 잔류 전류 제거 단계를 설명하며 적분 커패시터에서 낮은 유전체 흡수를 요구합니다. 오차 예산, 누설 및 이력 의존적 동작을 평가하십시오. 유전체 라벨만으로는 적분기가 몇 번의 사이클 후에 영구적인 포화 상태에 진입할 것이라고 단정할 수 없습니다.
5. 적분 오류가 어떻게 계량 펄스 오류로 이어지는가?
여기에서 사용된 모델에서 각 유효 변환은 전력 추정치 P̂를 제공합니다. 하위 처리 단계에서는 관련 시간 간격을 사용하여 에너지를 누적합니다: ΔE = P̂ × Δt, 여기서 전력은 kW 단위, 시간은 시간(h) 단위이며 에너지는 kWh 단위입니다. 단순히 완료된 변환 횟수를 세는 것만으로는 이 기능을 수행할 수 없으며, 특히 복귀 시간이 변할 때는 더욱 그렇습니다. 누적기가 한 펄스의 에너지 증분량에 도달하면 펄스를 출력하고 나머지는 유지합니다.
교정 주파수(CF) 핀과 절연 미터 펄스 단자는 서로 다른 스케일링 또는 작동 규칙을 사용할 수 있습니다. 관찰 중인 특정 출력에 대해 펄스 상수와 활성화/무부하 조건을 사용하십시오.
펄스 상수 K가 impulses/kWh 단위이고 선택된 에너지 방향에 대한 정상 상태의 비음수 유효 전력 P가 kW 단위일 때, 이상적인 평균 펄스 주파수는 다음과 같습니다:
f = K × P / 3600 Hz
이는 네 가지 가능한 결과를 구분합니다.
펄스 주파수가 너무 높거나 낮음
입력 영역 오류, 기준 변경 또는 종단점 타이밍 오류로 인해 전력 추정치가 변경될 수 있습니다. 지속적인 바이어스는 평균 펄스 주파수를 변화시킵니다.
다운스트림 평균화는 무작위 지터를 줄일 수 있지만, 지속적인 부호 있는 바이어스는 계속 누적될 수 있습니다. 단일 펄스 간격의 변화만으로는 장기적인 에너지 오류를 확정할 수 없습니다. 저전력 상태에서는 예상 간격 자체가 길어질 수 있습니다. 예를 들어 K가 1,000 impulses/kWh이고 P가 0.01 kW인 경우, 출력이 활성화되어 있고 무부하 임계값 이상이라면 이상적인 평균 간격은 360초입니다.
펄스 출력이 간헐적으로 중단됨
변환 시간 초과, 공급 장치 재설정 또는 위상 시퀀스 중단으로 인해 에너지 누적기로 들어오는 새 데이터가 지연될 수 있습니다. 펄스가 즉시 중단되는지 여부는 시스템이 잘못된 데이터를 처리하는 방식(폐기, 이전 값 유지 또는 측정 일시 중단)에 따라 달라집니다.
따라서 비정상적인 변환과 누락된 계량 펄스 사이에는 고정된 일대일 관계가 없습니다.
펄스 출력이 지속적으로 중단됨
변환이 완료되지 않거나, 컨트롤러가 재설정 상태로 유지되거나, 펄스 생성이 비활성화되거나, 출력 인터페이스에 오류가 발생했을 수 있습니다.
실제 계량 IC는 정의된 조건에서 의도적으로 펄스를 억제할 수도 있습니다. 예를 들어, ADE7755 데이터시트 는 저전압 리셋 및 무부하 작동 중 펄스 억제를 설명합니다. 이는 출력 동작의 증거이며 듀얼 슬로프 컨버터의 예는 아닙니다.
수신기 과다 계수 또는 과소 계수
출력 인터페이스의 교란은 추가적인 임계값 교차 및 잘못된 계수를 생성할 수 있습니다. 또한 신호 레벨 또는 펄스 폭을 변경하여 유효한 펄스가 더 이상 수신기의 요구 사항을 충족하지 못하게 할 수도 있습니다. 과도한 입력 필터링은 합법적인 짧은 펄스를 거부할 수도 있습니다.
소스와 수신기를 비교하십시오. 잘못된 수신 계수가 있는 올바른 소스 파형은 조사를 인터페이스로 전환합니다. VIOX의 펄스 카운터 가이드 는 계수 및 입력 조건에 대한 관련 배경 정보를 제공합니다.
6. 증상, 메커니즘 및 증거 연결
| 관찰된 증상 | 후보 외란 경로 | 필요한 증거 |
|---|---|---|
| 입력 적분 종단점이 이동하지만, 램프는 연속성을 유지함 | 입력 외란, 오프셋 또는 추가 누설 | 입력 영역, 종단점 및 복귀 시간의 대응하는 변화 |
| 입력 적분 램프 클리핑 | 입력 과부하 또는 불충분한 출력 헤드룸 | 실제 입력, 공급 및 출력 스윙 제한 |
| 스위칭 시 단계(step) 발생 | 전하 주입 또는 제어 신호 결합 | 스위칭 에지에 대한 단계의 타이밍 |
| 디인테그레이션(de-integration)이 느려지지만 완료됨 | 변경된 기준 또는 복귀 전류 | 기준, 램프 기울기 및 T₂ 변화 간의 일치 |
| 디인테그레이션 중 복귀 추세 없음 | 참조 경로 또는 스위치 상태 결함 | 명령된 상태와 실제 노드 응답 비교 |
| 램프가 종단점을 교차하지만 변환 시간 초과 발생 | 비교기, 캡처 또는 제어 상태 문제 | 아날로그 교차, 디지털 에지 및 완료 상태의 시퀀스 |
| 펄스 중단이 리셋과 동시에 발생 | 공급 또는 리셋 경로 | 공급 이벤트, 리셋 및 누락된 펄스 간의 시간 상관관계 |
| 소스 펄스가 존재하지만 수신기가 카운트를 놓칩니다. | 드라이버, 절연, 케이블 또는 입력 구성 | 양단에서의 레벨, 폭, 에지 및 누적 카운트 |
각 후보는 테스트 가능한 설명입니다. 메커니즘을 확인하려면 상관 관계가 있는 증거가 필요합니다. 증상은 실패한 구성 요소의 이름 자체가 아닙니다.
7. 실패한 기능에 대한 EMC 개선 사항 매칭
새로운 측정 오류를 도입하지 않고 입력을 보호하십시오.
입력 보호 및 필터링은 노이즈 감쇠, 소스 임피던스, 안정화 시간 및 전압/전류 감지 채널의 진폭/위상 일치를 고려해야 합니다. 더 큰 커패시터로 인해 파형이 더 부드러워진다고 해서 전력 측정이 자동으로 더 정확해지는 것은 아닙니다.
소신호 적분 노드에서는 클램프 및 아날로그 스위치 누설을 평가에 포함하십시오. 수정 후 면역과 함께 저부하 정확도를 다시 확인하십시오.
노이즈가 많은 리턴 전류로 인해 참조 노드가 이동하지 않도록 하십시오.
민감한 기준 연결은 공급, 디지털 및 출력 리턴 전류 변경과 별도로 검토해야 합니다. 공유 임피던스는 이러한 전류를 측정 오류로 변환할 수 있습니다. 디커플링 배치와 리턴 경로는 명목 커패시턴스만큼 중요합니다.
Analog Devices의 71M6511 EMC 애플리케이션 가이드 는 기준 경로, 입력 필터링 및 레이아웃과 관련된 예제를 제공합니다. 해당 저항 및 커패시터 값은 분석 없이 관련 없는 설계로 이전해서는 안 됩니다.
타이밍 정확도를 잃지 않고 잘못된 비교기 이벤트를 거부합니다
적절한 히스테리시스 또는 입력 컨디셔닝은 반복적인 임계값 전환을 줄일 수 있습니다. 그러나 히스테리시스는 유효 트립 포인트를 변경하고 필터링은 지연을 도입합니다. 둘 다 변환 오류 예산에 포함되어야 합니다.
제어 로직은 변환 타임아웃, 비정상적인 위상 상태 및 유효하지 않은 결과를 감지하고 복구 이벤트를 기록해야 합니다. 워치독 재시작은 중단 중의 에너지를 자동으로 고려하지 않습니다. 데이터 처리 및 복구뿐만 아니라 실행 재시작도 검증하십시오.
인터페이스를 보호하면서 유효한 펄스를 보존합니다
드라이버, 아이솔레이터, 풀업, 클램프 및 수신기는 호환되는 전기적 및 타이밍 요구 사항이 필요합니다. 보호 기능을 추가한 후 유효 펄스 폭, 에지 동작 및 최대 카운트 속도를 다시 확인하십시오.
차폐 케이블이 전도성 인클로저에 들어가는 경우, 시스템 검토에 진입 본딩을 포함하십시오. VIOX의 EMC 케이블 글랜드 가이드를 참조하십시오.. 케이블 진입 차폐는 커플링 경로의 한 부분을 다룹니다. 보드 레벨 참조 및 리턴 경로 설계를 대체하지는 않습니다.
깜박이는 펄스 표시기 이상의 것을 확인하십시오.
정상 작동, 장애 중 동작 및 복구를 해당 IEC 62052-11 나 GB/T 17215 부품 및 제품 테스트 계획에 기록하십시오. 테스트 레벨 및 합격 기준은 관련 에디션, 포트 및 장비 조건에 따라 달라집니다. 과도 전압 서프레서(TVS) 또는 참조 회로는 어셈블리 준수를 확립할 수 없습니다.
유용한 검증은 네 가지 질문에 답합니다: 통합 파형이 복구되었는가, 변환이 제시간에 완료되었는가, 소스 및 수신기 수가 일치했는가, 그리고 측정 오류 및 유지된 데이터가 이벤트 전후 요구 사항을 충족했는가?
입력 통합의 경우 입력 영역을 검사합니다. 역통합의 경우 반환 기울기와 끝점을 검사합니다. 계량 펄스의 경우 누적 및 전송을 검사합니다. 이러한 관찰을 연결하면 측정 편향, 변환 중단 및 출력-수신 오류를 구별할 수 있습니다.
